Temario del curso:

• Conceptos básicos de metrología
• Importancia de las mediciones
• Instrumentos de medición
• Estimación de incertidumbre
• Calibración y trazabilidad
• Periodos de re-calibración
• Certificados e informes de calibración
• Métodos de ensayo y validación
• Manejo y cuidados de instrumentos
• Registro y uso de información de medición
• Laboratorio de medición e instrumentación
  ISO 17025

Temario del curso:

• AMEF

Propósito y alcance del AMEF de proceso
Modelo AMEF
Modo de Falla, Efecto y Causa
Severidad, Ocurrencia y Detección
Prevención, Detección y Contención
NPR vs SOD
Diseño de estrategias de control efectivas
Los supuestos del AMEF
Ejemplo práctico de AMEF

• MSA

Introducción a los Sistemas de Medidición
Elementos de un Sistema de Medición
Resolución, Bias, Estabilidad y Linealidad
Repetibilidad y Reproducibilidad
Estudio de Gage R&R – Diseño y Ejecución
Método de Rangos
Método ANOVA
Interpretación de Resultados Gage R&R
Sistemas de Medición de Atributos
Medidas para correcto uso y aplicación de MSA
Introducción al Control de Proceso
Plan de control

Introducción al Plan de Control
Características Críticas de Producto
Características Críticas de Proceso
Técnicas de evaluación
Tamaño de muestra y frecuencia
Métodos de control
Plan de reacción

• APQP

Introducción y fundamentos del APQP
Ciclo de planeación de la calidad del producto
Fase 1 – Planeación y definición del producto
Fase 2 – Diseño y desarrollo del producto
Fase 3 – Diseño y desarrollo del proceso
Fase 4 – Validación del producto y del proceso
Fase 5 – Feedback, evaluación y acciones correctivas
Compromiso de factibilidad

• PPAP

Introducción al PPAP
Emisión de un PPAP
Corrida significativa de producción
Los 18 requerimientos del PPAP
Notificaciones al cliente y niveles de PPAP
Revisión detalla del PSW
Requerimientos específicos del cliente
Retención de registros y formatos sugeridos

• SPC

Introducción al control estadístico
Medidas de tendencia central y dispersión
La variación en los procesos
Causas normales y especiales
Elementos de una gráfica de control
Estabilidad estadística
Límites de control
Tamaño de muestra y frecuencia
Gráficas de control de datos variables
Gráfica X-R
Gráfica I-MR
Gráficas de Control de Atributos
Gráfica p
Gráfica u
Estudio de Capacidad (Cp, Cpk, Pp, Ppk)

Temario del curso:

AMEF

• Propósito y alcance del AMEF de proceso
• Modelo AMEF
• Modo de Falla, Efecto y Causa
• Severidad, Ocurrencia y Detección
• Prevención, Detección y Contención
• NPR vs SOD
• Diseño de estrategias de control efectivas
• Los supuestos del AMEF
• Ejemplo práctico de AMEF

Temario del curso:

SPC

• Concepto de variación
• Introducción a la Variación
• Componentes de la Variación
• Estratificación
• Diagramas de Dispersión
• Histogramas
• Cartas de Control
• Causas especiales / Causas comunes
• Tampering o Sobreajuste
• Distribución de Probabilidad Normal
• Propiedades de la Distribución Normal Estándar
• Capacidad de proceso
• Introducción a la Capacidad de Proceso
• Índice de la Capacidad de Proceso CP
• Índice de la Capacidad de Proceso Real
• CPK
  Procedimiento para realizar Estudios de Capacidad de Proceso
• Control Estadístico del Proceso
• Introducción al Control Estadístico del Proceso
  Cartas de Control
• Patrones de Anormalidad en las Cartas de Control
• Proceso de Mejora del CEP
• Cartas de Control por Variables
• Cartas de Control de Medias-Rangos X-R
• Cartas de Control para Lecturas Individuales / Rango móvil I-MR
• Cartas de Control por Atributos
• Carta de Control para Fracción No Conforme “P”
• Carta “P” con tamaño de muestra variable
• Carta de Control “NP”
• Cartas de Control para No Conformidades (defectos) – “C” y “U”
• Cartas “C” – Tamaño de muestra constante
• Carta “U” – Defecto por Unidad

Temario del curso:

APQP

• Introducción y fundamentos del APQP
• Ciclo de Planeación de la calidad del producto
• Fase 1 – Planeación y definición del producto
• Fase 2 – Diseño y desarrollo del producto
• Fase 3 – Diseño y desarrollo del proceso
• Fase 4 – Validación del producto y del proceso
• Fase 5 – Feedback, evaluación y acciones correctivas
  Compromiso de factibilidad

Temario del curso:

MSA

• Introducción a los Sistemas de Medidición
• Elementos de un Sistema de Medición
• Resolución, Bias, Estabilidad y Linealidad
• Repetibilidad y Reporducibilidad
• Estudio de Gage R&R – Diseño y Ejecución
• Método de Rangos
• Método ANOVA
• Interpretación de Resultados Gage R&R
• Sistemas de Medición de Atributos
• Medidas para un correcto uso y aplicación del MSA
• Introducción al Control de Proceso

Temario del curso:

MSA

• Introducción al PPAP
• Emisión de un PPAP
• Corrida significativa de producción
• Los 18 requerimientos del PPAP
• Notificaciones al cliente y niveles de PPAP
• Revisión detalla del PSW
• Requerimientos específicos del cliente
• Retención de registros y formatos sugeridos

Temario del curso:

• Conceptos básicos del software
• Calibración y configuración de sondas
• Desarrollo de alineación interactiva 3,2,1 y local
• Importar y Exportar Cad
• Desarrollo del programa de medición (estructura)
• Elaboración de reportes de medición
• Elaboración de los diferentes métodos de medición (por puntos o elementos)
• Métodos de escaneo línea (abierta y cerrada)
• Envío de datos para estadística
• Registro y traslado de datos a PDF y Word

Temario del curso:

• ¿Qué es una coordenada
• Uso de las coordenadas
  Sistema tridimensional de coordenadas
• Medición por coordenadas
  Ingeniería inversa
• Generación de archivos 3D
• Alineación de láser y Handyprobe
  Sistema de palpado
  Alineación de archivos 3D y por palpado
• Manejo y mantenimiento del Handyprobe
• Cambio y ajuste de probetas para sistema de palpado